基于ATE的FPGA测试

摘要：

随着集成电路技术的飞速发展,FPGA的应用越来越广泛,其测试技术也得到了广泛重视和研究[1].文章简要介绍了FPGA的发展及其主要组成部分,提出了一种用ATE对FPGA进行测试的方法和具体测试流程.以一段Xilinx XC3042的真实配置数据为例详细描述了Intel HEX文件格式,以及将其转换成二进制配置码的方法,并介绍了FPGA的配置码格式和配置数据长度的计算方法.然后,以外设配置模式为例,通过XC3042的配置电路原理图和配置时序详细描述了FPGA的配置原理;最后给出了采用ATE(Automatic Test Equipment)-J750对FPGA的配置与测试过程,为FPGA的通用测试提供了一种切实可行的有效方法.

关键词：ATE、FPGA、测试、配置

所属期刊栏目：9

分类号：TN307(半导体技术)

在线出版日期：2010-03-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：17-19,26