SOC芯片DFT研究与设计

摘要：

文章首先介绍了SOC系统的DFT设计背景和DFT的各种测试机理,包括基于功能的总线测试机理、基于边界扫描链的测试机理、基于插入扫描电路的测试机理以及基于存储器自测试的测试机理.然后以某专用SOC芯片为例提出了SOC电路的DFT系统构架设计和具体实现方法.主要包括:含有边界扫描BSD嵌入式处理器的边界扫描BSD设计,超过8条内嵌扫描链路的内部扫描SCAN设计,超过4个存储器硬IP的存储器自测试MBIST,以及基于嵌入式处理器总线的功能测试方法.最后提出了该SOC系统DFT设计的不足.

关键词：系统芯片、边界扫描设计、存储器测试、扫描链、可测性设计

所属期刊栏目：9

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2009-03-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：28-31,45