一种Bipolar结构中的闩锁效应

摘要：

闩锁是集成电路结构所固有的寄生效应,这种寄生的双极晶体管一旦被外界条件触发,会在电源与地之间形成大电流通路,导致整个器件失效.文章较为详细地阐述了一种Bipolar结构中常见的闩锁效应,并和常见CMOS结构中的闩锁效应做了对比.分析了该闩锁效应的产生机理,提取了用于分析闩锁效应的等效模型,给出了产生闩锁效应的必要条件与闩锁的触发方式.通过对这些条件的分析表明,只要让Bipolar结构工作在安全区,此类闩锁效应是可以避免的.这可以通过版图设计和工艺技术来实现.文章最后给出了防止闩锁效应的关键设计技术.

关键词：闩锁效应、寄生晶体管、器件模型、版图设计

所属期刊栏目：9

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2009-03-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：20-23