黑瓷封装烧结工艺调节
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10.3969/j.issn.1681-1070.2009.01.001

黑瓷封装烧结工艺调节

引用
文章介绍了低温玻璃熔封的基本原理,分析了黑瓷封装器件在封装过程中缺陷产生的原因.以日本801型链式烧结炉为例,通过烧结工艺及过程,论述了预烘、烧结气氛、封盖温度、保温时间、升降温速率以及其他因素对黑瓷封装熔封工艺的影响,根据这些影响黑瓷封装熔封工艺的因素进行细化工艺.最后,总结出器件缺陷产生的几种常见形式,并针对性地提出了具体调节黑瓷封装熔封工艺的一些技巧和方法,以及这些技巧和方法的适用范围,以便掌握黑瓷封盖的基本规律,在以后生产中提高产品可靠性和合格率.

低温玻璃、烧结、软化点、缺陷、工艺调节

9

TN305.94(半导体技术)

2009-03-27(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共6页

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电子与封装

1681-1070

32-1709/TN

9

2009,9(1)

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