基于JTAG的SoC开发接口设计

摘要：

文章提出一种应用在SoC系统中的开发接口,用于边界扫描测试、调试,程序流跟踪等.在处理器、外设内核和开源(GDB)、商业的调试/仿真器或边界扫描测试设备之间提供支持.通过IEEE 1149.1 JTAG协议接口提供外部调试/仿真器、边界扫描测试设备与内核之间的连接.为了使设计具有实用价值和通用性,该设计重点实现了硬件调试功能中最基本最重要的部分,力求结构简洁、工作可靠.文中的设计通过仿真验证,证明其设计可靠、方案可行,具有很好的实用价值.

关键词：JTAG、开发接口、扫描链

所属期刊栏目：8

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2008-11-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：18-21,27