V777测试系统DA/AD测试技术的研究

摘要：

文章以V777测试系统为平台,用虚拟测试方法和DSP的思想来模拟数模混合测试仪的工作机制,包括激励的产生、响应的采集、数据处理和为DUT提供的测试波形的组合响应处理.利用V777测试系统PMU端口可并行测试的功能获取待测电路AD模块的8位输出,在误差允许范围内匹配其理论对应值.在低频下,利用PMU对DA端口模拟信号的输出进行采样,对采样得到的数据做数字信号算法处理,实现波形的判断.用上述方法以低成本来实现具有一定难度的电路的测试.

关键词：测试系统、DUT、DSP、ADC、DAC、PMU、FFT

所属期刊栏目：8

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2008-11-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：13-17