IC内置熔丝熔断方法

摘要：

集成电路的发展对电路的精准度和可编程性提出了更高的要求.低成本、高灵活性的熔丝结构由此得到了大范围的应用.熔丝可调节方案随着熔丝数目的增加而呈指数倍数增加.在编写测试软件时,传统方法是机械地用if...else语句来编程,程序将是非常的冗长且可读性差.文章在总结传统测试方法弊端的基础之上提出了一种可用于准确、有效地熔断IC内置熔丝的新方法.通过寻找实际测量结果和对应熔断熔丝之间的规律,将数量级为2n的熔丝熔断分析缩减至n次熔丝熔断分析.这种做法使程序简洁而又逻辑性强.

关键词：测试程序、熔丝熔断、可编程逻辑电路

所属期刊栏目：8

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2008-09-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：26-30