铜化学机械抛光工艺中碟形缺陷的优化
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1681-1070.2008.04.008

铜化学机械抛光工艺中碟形缺陷的优化

引用
铜化学机械抛光是近些年发展最快的一种工艺,铜碟形是铜化学机械抛光工艺中的主要问题之一.严重的碟形缺陷会造成产品良率的缺失,使得利润下降.碟形是由于在抛光过程中铜线与介质层不同的抛光速率所导致.文章详细地介绍了铜化学机械抛光的基本步骤和不同作用,然后指出了在抛光过程中碟形产生的基本原理,最后对抛光过程中最重要的抛光液及其成份对碟形的影响进行了分析.通过试验各种成分的剂量组成不同配方的抛光液,最终给出了减少碟形的具体改进方案.

铜化学机械抛光、碟形、抛光速率、抛光液

8

TN305.96(半导体技术)

2008-07-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

29-31

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

电子与封装

1681-1070

32-1709/TN

8

2008,8(4)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn