16位单片机测试技术研究

摘要：

集成电路测试是保证产品质量的重要手段,如何检测MCU类复杂大规模集成电路是测试的难点.文章以实际测试过的电路80C196KC为例,详细地介绍了"硬件学习法"生成测试码点的硬件构成和测试向量的采集方法.为实现对80C196KC丰富指令及各种寻址方式的完全测试,给出了测试指令的序列结构和数据结构.在此基础上给出了生成测试向量、测试A/D转换器及直流、交流参数的测试方法.

关键词：测试、测试向量、A/D转换器

所属期刊栏目：8

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2008-06-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：28-30,34