10.3969/j.issn.1681-1070.2007.11.007
SoC中嵌入式SRAM的BIST测试方法研究
随着集成电路设计规模的不断增大,在系统芯片SoC(System on a Chip)中嵌入大量的SRAM存储器的设计方法变得越来越重要.文中介绍了SRAM的典型故障类型和几种常用的测试方法,同时详细分析了嵌入式SRAM存储器内建自测试的实现原理以及几种改进的March算法,另外,以16k×32bit SRAM为例,给出了SRAM内建自测试的一种典型实现,并在Altera-EP1S25上实现.
嵌入式SRAM存储器、内建自测试、March算法
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TP302.2(计算技术、计算机技术)
2008-03-27(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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