存储器故障诊断算法的研究与实现

摘要：

集成电路工艺的改进使存储器的测试面临着更大的挑战.文中从存储器的故障模型入手,着重描述了存储器常见的诊断算法.诊断算法和诊断策略要在诊断时间、故障覆盖率、面积开支之间进行权衡.因此要根据存储器的故障类型和测试需求来选择合适的诊断算法,才能达到比较满意的效果.

关键词：存储器测试、故障模型、诊断算法、故障覆盖率

所属期刊栏目：6

分类号：TP333(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金;江苏省高科技研究资助项目

在线出版日期：2007-01-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：23-25,48