高加速应力试验及极限应力试验综述

摘要：

介绍了高加速应力试验(HAST)及极限应力试验(1imit test)的基本概念和相关背景,列举了当前国内外一些常用的技术方法、工程应用状况、试验模型及分析方法、试验剖面的建立及失效机理的确定等.指出了高加速应力试验及极限应力试验要注意的问题,并对它们的发展动向作了简单的预测.

关键词：高加速应力试验、极限应力试验、高加速寿命试验、高加速应力筛选

所属期刊栏目：6

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家重点实验室基金

在线出版日期：2006-11-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：31-34,38