10.3969/j.issn.1681-1070.2006.05.005
基于Nios Ⅱ的Serial EEPROM测试方法研究
文章介绍了Serial EEPROM的测试原理,提出了一种基于NiosⅡ软核CPU测试Serial EEPROM的方法,该方法具有稳定性高、所需器件少、可编程、低成本等优点.在Serial EEPROM的大量测试中可以代替昂贵的测试系统,是一种性价比较高的替代测试方案.
Serial EEPROM、测试、Nios Ⅱ、CPU软核、编程
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TN407(微电子学、集成电路(IC))
2006-06-06(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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