10.3969/j.issn.1681-1070.2005.04.006
范德堡和条状结构埋层电阻的测试及研究
薄层电阻经常被用于PCM以及SPICE模同时我们可以看到,随偏压的变化,JFET器件中的埋层电阻也发生相应的变化.本文研究了条形电阻和范德堡两种标准结构的电阻,同时利用2D、3D器件模拟,给出了优化电阻测试的路径和方法.
基区变窄效应、埋层电阻、电阻调整、范德堡、条状电阻
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TN407(微电子学、集成电路(IC))
2005-08-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
20-22,19