10.3969/j.issn.1681-1070.2004.06.012
PCB热变形的实时干涉测量研究
采用二次曝光和实时全息干涉技术对某一PCB进行了实验测试,获得了不同功率和不同夹持条件下PCB表面的离面位移分布以及离面位移随时间的动态变化图象.对两种不同的条纹图像进行处理,结果表明,随功率的增大,器件的离面翘曲量增大;在不同夹持条件下,由于器件局部受力约束和热传导条件的差异,呈现不同的位移分布,电阻区(热源区)附近的离面翘曲量变化较快而且较大.
PCB、可靠性、全息干涉
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TN307(半导体技术)
2005-08-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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