10.3969/j.issn.1681-1070.2003.05.012
IEEE 1149.1标准与边界扫描技术
本文首先分析了集成电路可测性设计的必要性,接着介绍了边界扫描的基本结构、IEEE1149.1标准及指令寄存器、数据寄存器,分析了边界扫描的工作过程,介绍了基本的扫描寄存器结构,最后给出了系统集成可测性设计的策略.
IC、可测性、边界扫描、内建自测试、系统集成
3
TN43(微电子学、集成电路(IC))
2005-09-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共8页
40-47