高性能集成电路在片ESD保护设计与评价

摘要：

本文详细介绍了在片静电泄漏(ESD)保护设计的各种技术,包括ESD测试模式,ESD失效机理,ESD保护结构,ESD器件模拟,ESD模拟,ESD版图设计,ESD与内部电路的接口等,并给出了ESD设计检查清单.

关键词：静电泄漏、集成电路、ESD、HDM、MM、CDM

所属期刊栏目：2

分类号：TN305(半导体技术)

在线出版日期：2005-08-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共11页

页码：34-44