基于NI Vision的保偏光纤几何参数测量技术研究

摘要：

近年来随着高精度光纤陀螺小型化的发展,细径保偏光纤的研制生产技术不断成熟,在研制和应用过程中急需对保偏光纤的几何参数进行准确测量.基于环形LED光源斜射照明的暗场成像技术,结合NI Vision视觉工具包提供的图像粒子分析处理算法,实现了保偏光纤各项几何参数的实时快速测量,且实验测量结果的重复性较好,能够很好地满足细径保偏光纤在研制生产和应用中的测量需求.

关键词：保偏光纤、几何参数、粒子分析

分类号：TN253(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2022-09-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：33-35