探究多丝正比计数器工作气体压强变化对α、β表面粒子发射率测量的影响

摘要：

讨论工作气压改变对α、β表面粒子发射率测量情况形成的影响,具体操作是在发射率装置上调整多丝正比计数器工作气压,测量α、β这两类粒子的实际发射率,基于阈值外推修正漏计数率.统计发现,工作气压50～180kP范围变动时,即便是在实验不确定度范畴中,差异化气压条件下α、β表面粒子的发射率测量值维持一致,建模的仿真模拟结果和试验最后所得结果相吻合.

关键词：正比计数器、工作气压改变、表面发射率、影响分析

分类号：TM930

资助基金：江苏省市场监督管理局科技计划项目KJ207570

在线出版日期：2022-04-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：78-80