基于STM32的放大器参数及故障测试仪
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1000-8519.2021.13.005

基于STM32的放大器参数及故障测试仪

引用
通过设计对运算放大器做一系列自动化测试,获取通用放大器特性参数及进行故障测试,能够测试通用性放大器的基本参数和特性、测试特定的一些故障,对放大器在电子领域、功放领域都有着很大的应用辅助.

运算放大器;电路特性测试;自动化测

2021-09-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

19-22

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

电子测试

1000-8519

11-3927/TN

2021,(13)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn