基于电子元器件低频噪声特性和相关测试技术

摘要：

基于电子元器件低频噪声特性测试中,针对影响低频噪声测量系统准确性的因素,提出了一种改进型的低频噪声测量方法,优化设计电子元器件低频电噪声测试系统,放大噪声测试部分噪声,并可以分析电子元器件低频噪声测试过程中的低频噪声特性,从而可以有效证实通过测试低频噪声,就能够验证电子元器件质量是否缺陷,分析电子元器件的使用可靠性.在本文之中,将会基于电子元器件介绍其低频噪声特性和相关测试技术方案.

关键词：低频噪声、电子元器件、噪声特性、测试

在线出版日期：2021-05-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

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