集成电路双面老炼方案研究
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10.3969/j.issn.1000-8519.2020.23.043

集成电路双面老炼方案研究

引用
动态老炼试验是元器件可靠性试验中极为重要的过程,通过老炼可以剔除早期失效元器件.本论文简单介绍了老炼试验的重要性、实现方式及特点,并结合提出了两种双面老炼板工艺效率改进方案,均能在不增购老炼设备的前提下将老炼效率提升80%以上,并通过实践验证了其可行性.

双面老炼板、效率提升、动态老炼

2021-02-25(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

111-112,96

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1000-8519

11-3927/TN

2020,(23)

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