基于单片机的光感芯片光学性能测试系统

摘要：

光学性能是评估光感芯片的功能与质量的重要指标,光谱仪的测试是一般的方法.以单步单色仪进行光谱响应测试,需要人工调整波长间隔并机械点击鼠标,工作量较大且易出错.本文以单片机驱动芯片,VB建立数据接收系统,控制信号传输间隔,有效的提高测试效率.测试结果表明,该系统切实可行.

关键词：单片机、测试系统、环境光感测芯片

在线出版日期：2020-08-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：31-32