10.3969/j.issn.1000-8519.2019.22.041
无损伤单晶圆兆声波清洗系统的研究与应用
集成电路自从诞生以来,特征尺寸已经不断缩减,随之而来的是对晶圆清洗的要求越来越高.兆声波技术的应用能够降低颗粒污染物与硅片之间的黏附力,是有效提高清洗效果的手段.在65nm技术代及以下,常规的兆声波清洗会造成晶圆微结构的损伤,无法被制造工艺所接受,只能用于非敏感结构的清洗,如晶圆衬底清洗、Pre-thermal diffusion、pre-epi、CMP、wafer reclaim等清洗.通过开发无损伤兆声波清洗装置可以有效地去除颗粒污染物,在40nm及以下的半导体清洗工艺中应用前景广阔.
半导体、清洗技术、无损伤、兆声波
TP2;V46
2020-01-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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