基于FPGA的集成电路测试系统设计探讨

摘要：

随着集成电路的功能以及各种参数的大量增加,要想保证电路的可靠性,就必须重视集成电路的测试功能,在传统的测试过程中,对集成电路的测试是依靠有经验的测试人员使用信号发生器、万用表和示波器等仪器来进行测试的.这种测试方法测试效率低,无法实现大规模大批量的测试.为此,本文分析了基于FPGA集成电路测试系统的优越性,并选取某集成电路的老化测试系统设计为例进行重点探讨.

关键词：FPGA、集成电路、测试系统设计

分类号：TP3;TN4

在线出版日期：2018-01-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：26-27