单片机教学系统驱动芯片测试装置的设计

摘要：

针对DTHS-A单片机实验平台的日常维护需要设计了该测试装置,该装置能够快速的检测实验电路中驱动芯片是否正常,与传统方法相比,节约了维护的时间,提高了检测效率.该装置以STC15F2K61S2为控制核心,通过按键与拨码开关来选择对应芯片,通过液晶显示与LED指示芯片是否正常,同时具有过流保护功能.

关键词：STC15F2K61S2、芯片检测

分类号：TP3;TN7

在线出版日期：2017-12-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：20-21