10.3969/j.issn.1000-8519.2017.15.043
半导体集成电路可靠性测试及数据处理方法
伴随着新材料与工艺技术的出现,半导体集成电力线宽逐渐减少,其集成度逐渐提高,对于集成电路可靠性要求逐渐严格.如今,集成电路生产加工突飞猛进,在一定程度上为集成电路可靠性研究奠定了基础.对此,笔者根据实践研究,就半导体集成电路可靠性测试与数据处理方法进行简要分析.
半导体集成电路、可靠性测试、数据处理、方法研究
TN7;TN3
2017-09-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
83,80