一种新的无触点IC卡的检测方法

摘要：

无触点IC卡在制卡过程中需要经过绕线碰焊、INLAY层压、成品层压工艺,可能造成芯片EEPROM的损坏,而这种IC卡是不能读写个人化数据的.本文基于上述情况,提出了一种新的在传统的检测仪中通过增加写模块,并设计相应的检测程序来实现检测IC卡芯片存储单元的检测方法.同时该检测方式是集成在功能检测仪中,一次可检测24张标准卡片,大大提高检测效率,对提高IC卡制作质量和缩短制作周期将产生促进作用.

关键词：IC卡、芯片、COS、EEPROM、检测

分类号：TH1;R12

在线出版日期：2017-09-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：36,38