一种MCU的测试解决方案

摘要：

对MCU进行测试时,如何高效生成测试向量是测试的难点.文章以8位MCU STC12C5410AD为例,详细地介绍了通过使用仿真环境,以C语言编写功能测试程序,完成芯片寄存器控制和主要逻辑单元运算,然后使用集成电路测试系统直接生成测试向量的解决方案.使用此解决方案,可根据测试要求,在较短时间内开发出MCU测试程序,节约测试开发成本.

关键词：单片机、MCU测试、测试向量

分类号：TN4;TP3

资助基金：北京市自然科学基金委员会-北京市科学技术研究院联合资助项目资助L150009

在线出版日期：2017-06-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：23-25,27