基于ATCA架构的并发SRIO测试系统设计

摘要：

本文通过对SRIO总线板卡在量产过程中的功能、性能集成测试需求进行分析，并结合当前测试技术发展趋势，提出一种基于ATCA架构的SRIO自动测试系统实现方案，以解决SRIO总线板卡在量产测试时，由于固定SRIO端口号、网络IP以及MAC地址，导致无法直接进行并发测试的问题。该方案采用了先进的系统架构，支持并发测试，能够满足产品量产测试需求，有效提高生产测试效率，并具备良好的通用性和扩展性，可作为基础性测试平台进行推广应用。

关键词：SRIO测试系统、ATCA架构、并发测试

分类号：TN06(一般性问题)

在线出版日期：2016-09-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：3-5