带隙基准源电路工艺鲁棒性设计

摘要：

在电路设计中，器件和电路的性能和参数会随着制造工艺，电源电压，环境温度的改变而发生变化，随着集成度不断提高，这种偏差严重影响电路的成品率，增加了电路设计的复杂性和成本等。采用基于典型的PTAT带隙基准源，对它进行适当修改后，增加了曲率校正和频率补偿功能，达到增强其工艺鲁棒性的目的，所设计的电路在满足原功能基础上，在指定的PVT变化范围内，电路稳定性得到明显提高。

关键词：带隙基准源、工艺、鲁棒性

分类号：TN702(基本电子电路)

资助基金：北京市自然科学基金资助项目编号4122031；北京市财政资金项目“创新工程Ⅱ-2面向物联网的超高频RFID芯片测试技术研究”支持编号PXM2013_178102_000003。

在线出版日期：2014-01-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：11-14