基于遗传算法的随机测试生成技术探究

摘要：

　　随着集成电路设计复杂度不断提高，功能验证的挑战也不断增大。为了加快验证进程提高覆盖率，提出了一种新的基于遗传算法（Genetic Algorithm, GA）的随机测试生成方法。该方法基于一种二进制和十进制数混合编码的双层编码模式，并使用了权值可自动调控的功能覆盖点来计算个体适应度值，并将模拟过程中的覆盖率报告自动反馈回给随机测试生成的约束产生。该方法已应用于中国科学院微电子研究所自主研发的IME-Diamond数字信号处理器RTL模型的模块功能验证。实验结果表明，该方法有效提高了验证效率。

关键词：功能验证、覆盖率驱动、遗传算法、双层编码

分类号：TP302(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2013-08-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：75-77,88