ARM Cortex-M3微处理器测试方法研究与实现

摘要：

作为32位 RISC 微处理器主流芯片,ARM 芯片得到长足发展和广泛应用.因而,ARM 芯片的测试需求更加强劲的同时,测试工作量在加大,测试复杂度也在增加.本文给出了基于 ARM Cortex-M3的微处理器测试方法,该方法也可用于类似结构的微处理器测试.

关键词：ATE、ARM、Cortex-M3、IC 测试、BC3192

分类号：TP20;TN30(自动化技术及设备)

在线出版日期：2013-06-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：8-9