10.3969/j.issn.1000-8519.2012.12.001
晶体管HFE参数的快速测试方法
随着国内半导体分立器件生产规模的发展,晶体管生产厂家及使用单位对晶体管测试速度的要求越来越高,而制约测试速度最主要的因素就是HFE参数的测试速度远远达不到现在生产的需要。本文在探讨晶体管HFE参数的通用测试方法不足的基础上,提出晶体管HFE参数先进的快速测试方法。依据此方法并结合现有半导体分立器件测试系统,主要通过硬件配合在测试系统内构造出晶体管HFE参数的快速测试单元,把测试速度由原来的1000ms提高到15ms,实现了从测试方法到技术成果的转化。
HFE、快速测试方法、硬件配合
TN407(微电子学、集成电路(IC))
北京市优秀人才培养资助D类项目PYZZ090410001908
2013-03-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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