10.3969/j.issn.1000-8519.2012.04.015
基于MOS管的新型转换开关在集成电路测试中的应用
为了克服继电器在集成电路测试板上触点烧蚀故障率较高,断开时易产生电磁干扰和开关时间过长等缺点,提出了一种基于MOS管的新型转换开关电路,能更加有效地测试芯片,显著降低芯片的成本。本文详细讨论了集成电路测试的要素和基本原则,继电器在测试板上的应用及其局限性,基于MOS管的新型转换开关电路的特点及控制原理。仿真结果表明,该电路在10v电源电压下开关的转换速度为70μs,工作频率可达100kHz以上,灵敏度高,适用于集成电路测试。
集成电路、测试板、继电器、MOS管
TN431.1(微电子学、集成电路(IC))
教育部新世纪优秀人才资助计划项目2008
2012-07-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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