基于V-I曲线的电路板故障测试卡的实现

摘要：

设计了一种基于V-I曲线的电路板故障测试卡.它采用PCI接口的形式,在上位机的控制下产生测试所需的电压扫描信号,同时逐点采集其电流值,并实时将电压与对应的电流值经PCI接口送上位机做故障分析.该测试卡架构灵活,采用PCI卡+专用测试诊断软件的模式,可用于各种类型电路板的故障测试,同时可扩展到分机及任意电气特性节点,特别适合现场及野外维修等场合.本文详细介绍了测试卡的硬件设计,包括原理图及关键程序段,最后设计了一个简单的测试DEMO,验证了预期的结果.

关键词：电路板、故障诊断、V-I曲线、PCI接口

分类号：TN707(基本电子电路)

在线出版日期：2011-01-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：87-91