10.3969/j.issn.1000-8519.2010.02.014
基于ATE的DSP测试方法
本文以TI公司的DSP5509A为例,介绍了在ATE上开发DSP芯片的测试程序的思路和方法.本文论述的DSP功能模块的测试算法,指令测试方法,脱机开发DSP功能诊断程序的方法已经在国产BC3193V50集成电路测试系统上运用,结果表明是有效的.其中针对DSP功能模块的测试算法以穷举为出发点,具体实现方式包括基本测试模块的反复调用,同模块内所有属性的遍历测试,不同模块间属性的交叉组合测试.最后本文论述了测试程序在不同测试系统移植中需要注意的问题.
DSP、集成电路测试系统、测试图形、指令测试、测试程序移植
TP319(计算技术、计算机技术)
2010-04-27(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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