10.3969/j.issn.1000-8519.2010.01.011
混合信号集成电路边界扫描测试技术的实现
IEEE1149.4为混合信号的测试提供了一项标准,同时也提供了一种重要的可测试性设计(DFT)技术,该技术不仅可以测试芯片或PCB之间的管脚连接是否存在故障,还可以测试芯片的逻辑功能.本文以IEEE1149.4标准为基础,结合混合信号边界扫描测试系统进行了测试验证,完成对混合信号电路的参数测试.
IEEE1149.4、ABM、TBIC、边界扫描单元
TN407(微电子学、集成电路(IC))
教育部新世纪优秀人才计划2008
2010-04-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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