10.3969/j.issn.1000-8519.2010.01.009
CPLD测试方法研究
CPLD是集成电路中最常用的器件之一,CPLD的工艺不断改进,使得它的集成度和工作速度也在不断增加.因此,对于CPLD的测试变得越来越重要.本文在详细研究CPLD内部结构的基础上,基于"分治法"的基本思路对CPLD的测试理论和方法做了探索性研究,并且建立了测试模型以针对实际的CPLD器件测试.
CPLD、测试模式、分治法
TN407(微电子学、集成电路(IC))
2010-04-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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