基于Credence Gemini500的内嵌式AD转换器测试方法研究

摘要：

本文中应用Credence公司的Gemini500测试系统对某-SoC芯片内嵌模数转换器进行了测试.根据芯片功能分析和封装形式,对测试板进行了优化设计.根据内嵌式ADC的时序特点进行了测试向量的设计.

关键词：内嵌模数转换器、测试模式、片上系统

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：教育部新世纪优秀人才计划2008

在线出版日期：2010-04-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：34-37,43