NI全新模块化仪器套件有效扩展PXI系统在半导体测试领域中的应用
@@ 美国国家仪器有限公司近日发布10款全新PXI产品,有效扩展PXI进行混和信号半导体测试的功能.全新以软件定义的产品套件专为NI LabVIEW图形化开发系统而设计,包含四个高速数字I/O(HSDIO)仪器、两个数字开关、两个增强射频仪器、-个高精度源测量单元(SMU)和专用数字数字矢量文件导入软件.全新的NI PXI半导体套件包含多种新特性,包括200 MHz单端数字I/O、10 pA电流分辨率、快速多频带射频测量、直流/数字开关和波形发生语言(WGL)以及IEEE1450标准测试接口语言(STIL)文件导入功能.
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2010-04-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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