存储器并行测试方法

摘要：

存储器是集成电路中最常用的器件之一,存储器的工艺不断改进,使得它的容量增大、集成度和工作速度也在不断增加.快速而高效地对存储器测试,是批量存储器测试工作的一个重要课题.本文介绍了有关大容量存储器集成电路测试系统的软件原理和硬件构成,对存储器并行测试方法作了初步探讨.

关键词：存储器、并行测试、流水线

分类号：TP312(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2009-04-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：47-49