SOC混合信号测试难题的解决策略

摘要：

缺乏可控制性和可观察性是SOC嵌入式内核测试电路最难解决的问题.本文提出在SOC嵌入式内核测试电路中引入DFT和BIST方法.介绍了IEEE1149.4混合信号测试总线及其应用特点,讨论运用重配置的DFT方法和测试点插入的DFT方法来增强混合信号系统的可控制性和可观察性.阐述ADC/DAC与PLL两种电路的BIST技术在SOC嵌入式内核测试的应用.为解决SOC混合信号测试难题提供一种有效的方法.

关键词：混合信号、IEEE 1149.4、可测性设计、内建自测试

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2008-05-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：69-72