二次筛选中电子元器件的可靠性保障
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1000-8519.2007.06.017

二次筛选中电子元器件的可靠性保障

引用
二次筛选是电子元器件在装机使用前可靠性的重要保障过程,从环境、操作、静电防护、失效分析与破坏性物理分析等方面做好电子元器件的可靠性保障工作,可以避免电子元器件的更多失效和在装机使用后因有隐患而造成失效问题.本文对这些问题进行了深入恩考和探索,提出了一些可靠性保障措施.

可靠性、环境、静电防护、失效分析与破坏性物理分析

TN6(电子元件、组件)

2007-09-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

68-70,77

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

电子测试

1000-8519

11-3927/TN

2007,(6)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn