融合MegaZoom与深存储技术安捷伦将示波器性能标准推向高水平
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1000-8519.2004.09.009

融合MegaZoom与深存储技术安捷伦将示波器性能标准推向高水平

引用
@@ 随着电子技术发展迅猛,测试业面临重大挑战.以总线演进为例,以往并行为主的总线技术现在正向高速串行发展,PCI Express传输速率跃升Gpbs等级,若没有高端的测量仪器配合,设计生产商便难以圆梦.

融合、存储技术、安捷伦、示波器、总线技术、重大挑战、技术发展、高速串行、传输速率、测量仪器、生产商、行为、设计、电子、测试

X59;O65

2007-09-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共1页

7

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

电子测试

1000-8519

11-3927/TN

2004,(9)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn