降低IC测试费用并行测试与多工位测试

摘要：

@@ 集成度增加和功能多样的SOC在消费量最大的产品中,如移动通信手机、微控制器、监视器、游戏机等广泛使用,销售量攀升的同时价格不断下降,但测试费用却居高不下.抑制测试费用上升,挖掘测试系统潜力,实在是当前最迫切的任务.本文介绍的多工位测试与并行测试相结合就是一种可行的解决方案.简单说来,解决办法是将原来只有一个测试插座变成多个测试插座,将串行测试变成并行测试.如果多工位使测试效率提高m倍,并行测试使测试效率提高n倍,则总效率得到m×n倍的改善.

机标关键词：测试费用、并行测试、多工位、效率提高、测试插座、移动通信手机、微控制器、居高不下、解决方案、测试系统、总效率、游戏机、销售量、消费量、监视器、集成度、潜力、价格、功能、串行

分类号：F4(工业经济)

在线出版日期：2007-09-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

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