超大规模集成电路测试现状及关键技术

摘要：

集成电路是新一代信息技术战略产业的基础,关乎国家的信息安全和经济安全.集成电路测试是集成电路产业链的关键技术环节,贯穿于设计、制造、封装和应用等全产业链.集成电路设计、工艺和封装等技术的发展,对集成电路测试提出了挑战.在总结集成电路测试分类的基础上,研究了集成电路测试的全流程,基于集成电路测试设备的发展现状,详细地分析了超大规模集成电路的ATE自动化测试、测试向量转化优化和高速信号完整性测试等关键技术,最后展望了超大规模集成电路测试技术发展.

关键词：集成电路测试;可测性设计;自动测试设备;测试向量;高速信号

所属期刊栏目：39

分类号：TN432(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：广东省重点研发计划项目2020B0404030005,2019B010145001

在线出版日期：2021-11-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：16-20