可靠性增长试验中抗振恒温晶振失效案例分析

摘要：

随着航天技术的发展,对飞行器中电子设备的小型化和可靠性指标均提出了较高的要求,而晶振作为电子设备中不可或缺的基本单元,对其体积和抗振性设计也提出了更高的要求.某飞行器载小型化通信设备在研制过程中通过可靠性增长试验暴露出了超小型抗振恒温晶振失效的潜在故障,对该晶振的减振原理及故障机理进行了分析,提出了改进措施并进行了仿真和试验验证,最终达到了提升小型化通信设备的可靠性指标的目标,对于提高类似航天电子产品的可靠性设计水平具有一定的参考意义.

关键词：可靠性增长试验、恒温晶振、动态相噪

所属期刊栏目：39

分类号：TN752(基本电子电路)

在线出版日期：2021-05-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：47-52