微波集成电路的老炼试验技术
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1672-5468.2016.03.012

微波集成电路的老炼试验技术

引用
微波集成电路(MIC)是雷达和微波通信系统中的关键部分,其可靠性试验对于保证交付产品的质量具有重要的作用.老炼试验是可靠性筛选的关键一环,因而也是产品质量保证的重要手段.对MIC老炼试验技术进行了研究,并针对老炼夹具的设计、ESD与EMP防护和自激振荡的预防与消除提出了具体的解决措施.

微波集成电路、老炼试验、夹具、自激振荡、可靠性

34

TN454;TB114.37(微电子学、集成电路(IC))

2016-07-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

61-64

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

电子产品可靠性与环境试验

1672-5468

44-1412/TN

34

2016,34(3)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn