10.3969/j.issn.1672-5468.2015.01.011
常用低气压试验方法的标准依据的解析
以微波组件产品为例,论述了低气压环境对产品性能的影响,对比分析了常用的低气压试验方法的依据及不同点,提出了对密封要求比较高的、适用于航空航天作业环境的产品,在低气压环境试验之后应进行密封检测的必要性,为微波组件产品低气压试验的标准化工作的提升提供了参考.
微波组件、低气压试验、试验方法依据、密封检测
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TN12;T-652.1(真空电子技术)
2015-03-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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